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當前位置:首頁產品中心光學測量儀器光束/光斑質量分析儀

  • 1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm

    1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 產品應用 激光光束分析:輪廓,光束尺寸,位置,功率 激光光束質量分析 多波長激光準直

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm)

    BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm) 產品總覽 BeamOn 是光束診斷測量系統,用于實時測量連續或脈沖激光光束,可測量激光光束參數,包括強度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。軟件還具有報告功能,用于光束分析設置和給出結果。

    更新時間:2025-01-16
    產品型號:
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  • 400-1700nm 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀

    400-1700nm 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀,超高速USB 3.0,400-2000nm,采用量子點傳感器,對1550nm或2000nm處進行優化,多種有效面積可供選擇,z高可至1920 x 1080,15×15 μm像素點,14位A/D轉換,是連續和脈沖短波紅外激光光束分析的理想工具。

    更新時間:2026-05-08
    產品型號:
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  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:
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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間:2024-12-08
    產品型號:BladeCam2-HR-1310
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